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텍트로닉스, PAM4 테스트 솔루션 라인업 확대

신일영 기자
입력 2017.09.27 00:00

테스트 시간 단축 및 안정·반복 가능한 결과 제공

텍트로닉스(대표 켄트 성혁 전)가 OIF-CEI-56G VSR/MR/LR PAM4 표준에 대한 포괄적인 400G 전기 적합성 테스트를 포함하도록 PAM4 테스트 솔루션 라인업을 확대했다. 새로운 400G-TXE 소프트웨어 패키지는 최대 70GHz 대역폭까지 지원되는 모델 라인업인 고성능 텍트로닉스 DPO70000SX 실시간 오실로스코프에서 실행된다. 자동화된 턴키 솔루션이 PAM4 적합성 테스트 스위프를 단일 패스에서 수행하여 더 짧아진 테스트 시간, 보다 안정적이고 반복 가능한 결과 및 높은 사용편의성을 제공한다.

PAM4 인코딩 방식은 NRZ(Non-Return to Zero)와 비교하여 시리얼 데이터 채널의 데이터 전송속도를 두 배로 높이는 장점이 있지만, 복잡한 변조체계로 인해 테스트 및 측정수행에 많은 어려움이 존재하기도 한다. 또한, 다수의 PAM4용 측정사양이 여전히 유동적이어서 측정기법을 적용한 테스트 표준을 항상 최신 상태로 유지하는 것이 까다롭다. 이러한 이유로 복잡한 테스트 절차를 완료하는데 있어 테스트 시스템 전반적인 부분과 연동된 환경문제를 감안한 신뢰성 있는 결과를 얻기 위해 종전보다 더 많은 시간을 요구하고 있다.

텍트로닉스의 고성능 오실로스코프 담당 총책임자인 브라이언 라이히(Brian Reich)는 “DPO70000SX 오실로스코프에서 PAM4 테스트를 자동화함으로써 텍트로닉스는 고객이 400G로 전환하는데 필요한 사용하기 쉬운 턴키 테스트 솔루션을 제공 중”이라며, “400G 전기적 PAM4 표준 적합성 테스트에 대한 이러한 반복 가능한 접근방식은 증가하는 데이터 센터 커뮤니티를 위해 텍트로닉스에서 제공하는 풍부한 PAM4 측정 툴에 추가된 또 다른 기능 중에 하나”라고 말했다.

텍트로닉스 400G 패키지를 사용하면 사양에 규정된 한도까지 전기적 PAM4 신호를 평가할 수 있으며, 완전한 OIF-CEI 사양 수준의 적합성 테스트를 제공한다. 이 솔루션에는 ISI 지터로 인해 손상된 신호, 또는 기타 결함을 비롯한 모든 조건에서 신뢰할 수 있는 측정결과를 제공하는 디지털 클럭 복구 기능이 포함되어 있다.

텍트로닉스 400G-TXE 적합성 패키지는 단 하나의 측정 애플리케이션으로 필수 테스트 전환을 수행하여, 더 짧아진 테스트 시간과 보다 안정적이고 반복 가능한 결과, 뛰어난 사용 편의성을 제공한다.

또한, 텍트로닉스는 적합성 테스트 외에도 PAM4 분석 및 디버그 소프트웨어 솔루션을 실시간 및 등가 시간 오실로스코프에 제공하여 설계자들이 BER 및 아이 높이와 폭 등의 측정 시료의 문제 원인을 완벽하게 평가하는 데 필요한 통찰력을 갖도록 지원한다.