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키사이트, 동적 전력 디바이스 분석기 발표
2019-09-01

키사이트, 동적 전력 디바이스 분석기 발표
이중 펄스 테스터 포함, 안전한 WBG 반도체 테스트 환경

키사이트테크놀로지스가 이중 펄스(Double Pulse) 테스터가 포함된 새로운 동적 전력 디바이스 분석기 PD1500A를 발표 했다. 이 분석기는 측정 하드웨어와 테스트를 수행하는 전문가의 안전을 보장하면서 와이드 밴드갭(WBG) 반도체에 대한 안정적이고 반복 가능한 측정을 제공한다. 

글로벌 전기차 시장(EV)의 성장이 소형의 고전력, 고효율 전 기 전력 시스템의 수요를 촉진하고 있다. 재생 에너지와 EV 와 같은 미션 크리티컬 분야에서 업계가 와이드 밴드갭 반도 체 기술로 전환하고 있는 지금, 많은 전력 변환기 설계자들 이 신뢰성 등을 이유로 IGBT(insulated-gate bipolar transistor), SiC(silicon carbide), GaN(gallium nitride) 등을 채택하는 데 주 저하고 있다. 

SiC 또는 GaN 디바이스의 완벽한 특성화를 위해서는 정적 및 동적 측정이 요구된다. 키사이트 B1505A 및 B1506A 전 력 디바이스 분석기가 이러한 동적 측정을 제공하며, 새로운 PD1500A 추가로 다양한 동적 측정을 처리하는 데 필요한 유연성까지 제공한다. 반도체 거래 및 엔지니어링 표준화 기구 인 JEDEC(Joint Electron Device Engineering Council)가 제정 한 와이드 밴드갭 디바이스 표준이 계속 발전하고 있기 때문 에 이러한 기능은 매우 중요한 요소다.

키사이트의 PD1500A는 모듈식으로 설계되어 있어 많은 디 바이스 유형을 테스트할 수 있고 다양한 전력 수준에서 여러 특성화 테스트를 수행할 수 있다. 초기 시스템은 최대 정격 이 1.2 ㎸와 200 A인 Si 및 SiC 전력 반도체에 대한 완벽한 이 중 펄스 테스트 특성화와 매개변수 추출을 제공한다. 키사이 트 측은 향후 GaN 및 전력 모듈과 같이 더 많은 전류를 필요 로 하는 디바이스에서 테스트를 수행할 수 있도록 PD1500A 에 모듈을 추가할 것이라고 했다.

이번 신제품은 와이드 밴드갭(WBG) 반도체에 대한 안정적이 고 반복 가능한 측정으로 사용자들이 설계 시간과 필요한 프 로토타입 수를 줄여 비용과 제품 출시에 걸리는 시간을 단축 시켜줄 것으로 보인다.

키사이트테크놀로지스 02-2004-5212 www.keysight.com

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