텍트로닉스, 키슬리 4200 파라미터 분석기 출시

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텍트로닉스, 키슬리 4200 파라미터 분석기 출시

2016년 9월 1일 (목) 00:00:00 | 지면 발행 ( 2016년 9월호 - 전체 보기 )

텍트로닉스, 키슬리 4200 파라미터 분석기 출시

반도체 특성 분석의 복잡성 완화, 분석결과 시간 단축

텍트로닉스가 고객맞춤 통합형 파라미터 분석기 키슬리4200A-SCS를 선보였다. 키슬리 4200A-SCS 파라미터 분석기는 테스트 설정이 간편하면서도 명확하고, 정밀한 결과를 제공함으로써 새로운 사용자 또는 일시적인 사용을 원하는 고객이 복잡한 특성파악에 할애하는 수고를 덜어주어 반도체 장치, 소재, 공정 관련 이해를 돕는다. 키슬리 4200-SCS 파라미터 분석기의 성공을 기반으로 신규 4200A-SCS 장비는 현대적 산업디자인, 새로운 그래픽사용자 인터페이스를 갖추었고, 전문가 교육 영상을 장비와 함께 제공하는 등, 자가 학습이 가능한 다양한 도구를 제공한다. 결과적으로 테스트 설정 시간이 최대 절반으로 절약되고, 훨씬 간편하고 직관적인 조작이 가능하다.

반도체 장치 연구, 장치 장애 분석, 다수 사용자가 공유하는 장비에 대한 신뢰성 실험과 같은 응용 분야의 경우 이러한 편리성이 특히 중요하다. 텍트로닉스의 키슬리 제품 군 총책임자인 마이크 플래허티(Mike Flaherty)는 “파라미터 분석은 상용 이전 단계에서 새

로운 반도체 장비, 소재의 특성을 파악하거나 장치의 신뢰성을 실험할 때 매우 중요하다”고 전제한 뒤, “그러나 실험빈도가 낮기 때문에 연구자들이 파라미터 시험 장비를 전문적으로 다루기는 매우 어렵다”고 설명했다. 그는 덧붙여 “이를 감안해 오랜 연구 끝에 4200A-SCS는 설치가 이례적으로 쉽고 파라미터 분석기에 대한 사전 지식이 없는 사용자도 조작법을 쉽게 터득할 수 있도록 제작됐다”고 특징을 설명했다.

이 모듈은 4200A-SCS 메인 프레임에 사용하며, SMU(I-V)와 커패시턴스-전압(C-V) 측정 간에 온더플라이 스위칭을 제공하고, 프로버 니들이나 이동 케이블을 움직이지 않고도 C-V 측정을 다른 장치 단자로 이동시킬 수 있게 해준다. 또한, 미숙한 사용자들이 필요로 하는 직관적 조작이 가능하면서 동시에 전문가가 요구하는 고급 기능을 지원하는 새로운 그래픽 사용자 인터페이스와 결합되어 있다.

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