[국내신제품] 고급 자동화 테스트 어플리케이션을 위한 PXI Express 디지털 계측기와 고대역폭 섀시

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[국내신제품] 고급 자동화 테스트 어플리케이션을 위한 PXI Express 디지털 계측기와 고대역폭 섀시

2009년 10월 8일 (목) 09:10:00 | 지면 발행 ( 2009년 9월호 - 전체 보기 )

고급 자동화 테스트 어플리케이션을 위한
PXI Express 디지털 계측기와 고대역폭 섀시

내쇼날인스트루먼트는 고급 자동화 테스트 어플리케이션을 위한 32-채널 PXI Express 기반 디지털 계측기와 8-슬롯 고대역폭 PXI Express 3U 섀시를 발표했다.
‘NI PXIe-6544/45’전압 선택 가능 디지털 파형 생성기/분석기는 각각 최고 100 및 200㎒의 클록 속도를 제공하여 테스트 어플리케이션을 최적화한다. 새로 출시된 디지털 계측기는 호스트 메모리로부터 대량의 데이터를 신속히 전송하는 고속 반도체 디바이스와 HD(High- Definition) 멀티미디어 구성 요소의 분석을 수행한다. ‘NI PXIe-6544/45’모듈의 연산을 이용하면 아날로그-디지털 컨버터(ADC), 디지털-아날로그 컨버터(DAC), 메모리 디바이스, ASIC 그리고 마이크로컨트롤러와 같이 보다 빠른 반도체 디바이스를 자동화시켜 테스트할 수 있다.
‘NI PXIe-1082 섀시’는 7개의 PXI Express 주변 슬롯을 갖춘 3U 8-슬롯 PXI Express 섀시로서 슬롯당 최고 1GB/s와 최고 4GB/s의 전체 시스템 대역폭으로 생성기/분석기를 보완한다.
새로 출시된 제품의 데이터 처리량은 여러 멀티미디어 디바이스뿐 아니라 최고 1080p의 60㎐ HDTV 신호, LCD 화면, RF 기저대 디바이스와 HD 라디오를 테스트할 수 있다.

한국내쇼날인스트루먼트
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